BeNano 180 Zeta 納米粒度及 Zeta電位分析儀
產(chǎn)品介紹
BeNano 180 Zeta 納米粒度及 Zeta電位分析儀 是 BeNano 180+BeNano Zeta 的二合一光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了背向動(dòng)態(tài)光散射 DLS、電泳光散射 ELS 和靜態(tài)光散射技術(shù) SLS，可以準(zhǔn)確的檢測(cè)顆粒的粒徑及粒徑分布，Zeta 電位，高分子和蛋白體系的分子量信息等參數(shù)，可廣泛的應(yīng)用于化學(xué)、化工、生物、制藥、食品、材料等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和質(zhì)量分析與控制。
基本性能指標(biāo)
粒徑檢測(cè)
| 原理 | 動(dòng)態(tài)光散射技術(shù) |
| 粒徑范圍 | 0.3 nm – 10 μm |
| 樣品量 | 40 μL – 1 mL |
| 檢測(cè)角度 | 173 ° + 12° |
| 分析算法 | Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS |
Zeta電位測(cè)試
| 原理 | 相位分析光散射技術(shù) |
| 檢測(cè)角度 | 12° |
| Zeta范圍 | 無(wú)實(shí)際限制 |
| 電泳遷移率范圍 | ＞±20 μ.cm/V.s |
| 電導(dǎo)率范圍 | 0 - 260 mS/cm |
| Zeta測(cè)試粒徑范圍 | 2 nm – 110 μm |
分子量測(cè)試
| 分子量范圍 | 342 Da – 2 x 107 Da |
微流變測(cè)試
| 測(cè)試能力 | 均方位移、復(fù)數(shù)模量、彈性模量、粘性模量、蠕變?nèi)崃?/span> |
粘度和折光率測(cè)試
| 粘度范圍 | 0.01 cp – 100 cp |
| 折光率范圍 | 1.3-1.6 |
趨勢(shì)測(cè)試
| 時(shí)間和溫度 |
系統(tǒng)參數(shù)
| 溫控范圍 | -15°C - 110°C，精度±0.1°C |
| 冷凝控制 | 干燥空氣或者氮?dú)?/span> |
| 標(biāo)準(zhǔn)激光光源 | 50 mW 高性能固體激光器， 671 nm |
| 相關(guān)器 | 最快25 ns采樣，最多 4000通道，1011動(dòng)態(tài)線性范圍 |
| 檢測(cè)器 | APD （高性能雪崩光電二極管） |
| 光強(qiáng)控制 | 0.0001% - 100%，手動(dòng)或者自動(dòng) |
軟件
| 中文和英文 | 符合21CFR Part 11 |
檢測(cè)參數(shù)
●顆粒體系的光強(qiáng)、體積、面積和數(shù)量分布
●顆粒體系的 Zeta 電位及其分布
●分子量
●分布系數(shù) PD.I
●擴(kuò)散系數(shù) D
●流體力學(xué)直徑 DH
●顆粒間相互作用力因子 kD
●溶液粘度
檢測(cè)技術(shù)
●動(dòng)態(tài)光散射
●電泳光散射
●靜態(tài)光散射
選配件
BeScan穩(wěn)定分析儀是基于多重光散射原理的樣品穩(wěn)定性分析設(shè)備，通過(guò)檢測(cè)得到樣品隨空間分布、時(shí)間、溫度的不穩(wěn)定性變化，并給出不穩(wěn)定性指數(shù)IUS，粒子遷移速度及樣品粒徑隨時(shí)間的變化曲線等信息。 BeScan靈敏的光學(xué)系統(tǒng)可以給出超過(guò)肉眼200倍以上的靈敏度，能更好的洞悉樣品的微觀結(jié)構(gòu)變化，從而極大的節(jié)約檢測(cè)時(shí)間，縮短配方研制周期。BeScan與BeNano聯(lián)合使用，通過(guò)定量的IUS和Zeta電位信息研究樣品的變化及其原因。
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